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        微分干涉(DIC)
        • 微分干涉(DIC)

        不必考慮相差環及聚光鏡環的遮擋,可以實現高數值孔徑的物鏡觀察。這意味著DIC 可以提高軸向分辨率,這在分辨率要求很高的試驗中尤其有意義。



        產品特點
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        1、
        不必考慮相差環及聚光鏡環的遮擋,可以實現高數值孔徑的物鏡觀察。這意味著DIC 可以提高軸向分辨率,這在分辨率要求很高的試驗中尤其有意義。
        2、DIC 成像時,決定對比度的首要因素是光通路中的梯度變化(即光波傳播方向上的變化率)。梯度大的區域在視野下對比度高,并呈現出“偽立體”效果這是DIC 的特征效果
        3、所觀察到的樣品各組成相間的相對層次關系突出,可以將明視場觀察法中無法檢測到的高度差異,用增強的對比度以浮雕或三維圖像的形式表現出來,對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷,能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結構細節或缺陷
        4、適用于檢測高度差異極其微小的樣本,包括金相組織、礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。 
         

        系統搭配圖
         
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        可搭配附件

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        應用案例

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        應用領域

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        微分干涉(DIC)廣泛應用于工業檢測、自動化、電子通訊、半導體、生物醫療、科學研究等領域。

         

           

         

         


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